陕西开尔文测控技术有限公司
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碳化硅器件动态参数测试仪

碳化硅器件动态参数测试仪

适用于碳化硅二极管、IGBT模块、MOS管等器件的时间参数测试

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冯女士
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品牌:开尔文测控型号:KEW6500应用领域:***/航天、 新能源

碳化硅器件动态参数测试仪详细介绍

主要技术参数

IGBT开关特性测试

开关时间测试条件

Ic:1A~1000A     Vce:5V~3500V(可扩展)

Vgs:-10V~+20V     Rg:1R~100R可调(可选择4档及外接)

负载:感性负载阻性负载可切换

电感范围:100uH,200uH,500uH,1000uH

电阻范围:0.5R、1R、2R、4R

IGBT开关特性测试参数

开通延迟td(on):20nS-10uS

上升时间tr:20nS-10uS

开通能量Eon:0.1-1000mJ

关断延迟时间td(off):20nS-10uS

下降时间tf:20nS-10uS

关断能量Eoff:0.1-1000mJ

二极管反向回复特性测试

FRD测试条件:

正向电流IF:1A~1000A

反向电压Vr:5V~3500V

-di/dt:100A/us~10000A/us

负载:感性负载可选

电感范围:100uH、200uH、500uH、1000uH

FRD测试参数

反向恢复时间trr:20nS-2uS

反向回复电荷Qc:10nC~10uC

反向恢复电流lrm:1A~1000A

反向恢复损耗Erec:0.1mJ~1000mJ

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