| 品牌：开尔文测控 | 型号：KEW3500 | 产品别名：半导体分立器件静态参数测试系统 |
| 用途：适用于传统硅基及SiC二极管、三极管、MOSFET、J-FET、IGBT单管及模块、整流桥、可控硅、 | 适用行业：电力设备、电动汽车、轨道交通等 | 产品用途：适用于传统硅基及SiC二极管、三极管、MOSFET、J-FET、IGBT单管及模块、整流桥、可控硅、 |
运行条件
温度：25±5℃
相对湿度：<60%，在/或低于30℃
通风条件：设备四面距离墙面大于5cm
交流电源：220V±10%，47-63Hz，良好的测试仪器接地
