品牌:开尔文测控 | 型号:KEW3500 | 产品别名:半导体分立器件静态参数测试系统 |
用途:用于碳化硅二极管、IGBT模块、MOS管等器件的时间参数测试 | 适用行业:电力设备、电动汽车、轨道交通等 | 产品用途:用于碳化硅二极管、IGBT模块、MOS管等器件的时间参数测试 |
实现耐压2.5KV/2.5KA碳化硅元器件静态全参数测试,实现测试数据列表和图形展示。KEW3500-2.5KV-2500A特大功率碳化硅器件测试系统主要针对新能源、轨道交通及铁路等方面用碳化硅二极管、IGBT等模块进行测试。是目前既能测试微小电流(微安级)又能测试大功率(2500V2500A)器件的测试系统。