陕西开尔文测控技术有限公司
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开尔文测控KEW3500-静态参数测试系统

产品标签  | 静态测试仪 静态测试机 分立器件测试仪 静态参数测试系统 静态参数测试仪

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开尔文测控KEW3500-静态参数测试系统

适用于二极管、三极管、MOS场效应管、结型场效应管、IGBT、整流桥、可控硅、光耦等十三大类半导体分立器件全静态参数测试

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    品牌：开尔文测控型号：KEW3500产品别名：半导体分立器件静态参数测试系统
    用途：适用于传统硅基及SiC二极管、三极管、MOSFET、J-FET、IGBT单管及模块、整流桥、可控硅、适用行业：电力设备、电动汽车、轨道交通等

    采用脉冲法测试参数、脉宽可为300uS，占空比可达1/3000以上

    采用多级开尔文技术，系统稳定性高，测试结果准确，重复性好


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