品牌:开尔文测控 | 型号:KEW-CV | 产品别名:栅极电容&C-V曲线测试系统 |
用途:本产品适用于测试SiC、Si器件的栅极电容、栅极电阻及CV曲线的绘制。 | 产品用途:本产品适用于测试SiC、Si器件的栅极电容、栅极电阻及CV曲线的绘制。 |
本产品适用于测试SiC、Si器件的栅极电容、栅极电阻及CV曲线的绘制。
本系列产品可定制测试电压、测试频率、测试电平。
测试参数
Ciss(门极输入电容) Crss(集电极/漏极反馈电容) Coss(输出电容) Rg CV曲线 | Ciss分辨率:0. 1pF; Cres分辨率:0.1pF; Coss分辨率:0. 1pF; Rg分辨率:0. 1Ω |